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SuperViewW1光學(xué)粗糙度輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專(zhuān)用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-04-07
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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中圖儀器W系列3d表面輪廓光學(xué)檢測(cè)儀能對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量,可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時(shí)間:2025-04-07
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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SuperViewW1非接觸式光學(xué)輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-04-06
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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SuperViewW1光學(xué)形貌輪廓儀是利用光學(xué)干涉原理研制開(kāi)發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測(cè)量?jī)x器,主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以?xún)?nèi),確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-04-06
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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CHOTEST中圖儀器SuperViewW1光學(xué)輪廓度測(cè)量?jī)x是以白光干涉技術(shù)為原理的白光干涉儀,測(cè)量單個(gè)精密器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以?xún)?nèi),確保了高款率檢測(cè),具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-04-06
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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除主要用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓外,光學(xué)表面輪廓儀品牌SuperViewW1具有的測(cè)量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-04-06
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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