




產(chǎn)品簡介
CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測掃描電鏡具有出色的電子光學系統(tǒng),優(yōu)于4nm的空間分辨率成像,清晰呈現(xiàn)樣品表面微細結(jié)構(gòu)。采用特殊設計的隔振措施,能夠減小環(huán)境中振動對電鏡的干擾,并且全系列電鏡具有強抗電磁干擾性能,消除場地因素對電鏡的影響。
中圖儀器CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測掃描電鏡具有出色的電子光學系統(tǒng),優(yōu)于4nm的空間分辨率成像,清晰呈現(xiàn)樣品表面微細結(jié)構(gòu)。在材料科學中解析材料表面形貌與內(nèi)部結(jié)構(gòu);在工業(yè)制造領(lǐng)域中為精密加工質(zhì)量控制提供支撐;在生命科學、納米技術(shù)、地球科學等多個領(lǐng)域,均成為科學研究與技術(shù)創(chuàng)新的核心工具。

1.高抗振防磁性能
該系列臺式電鏡采用特殊設計的隔振措施,能夠減小環(huán)境中振動對電鏡的干擾,并且全系列電鏡具有強抗電磁干擾性能,消除場地因素對電鏡的影響。
其中CEM3000B更是采用本公司設計的高性能復合抗振系統(tǒng)來消除外界振動對電鏡的影響,即使是在高放大倍數(shù)下成像,用戶也不用擔心環(huán)境振動對電鏡產(chǎn)生的干擾。
2.選配低真空系統(tǒng)
根據(jù)用戶需求,可選配低真空系統(tǒng)。該系統(tǒng)讓用戶可以任意設定電鏡工作時的倉內(nèi)真空度(倉內(nèi)真空度低可達100Pa),以滿足不同類型樣品的觀測需求。
3.高襯度成像系統(tǒng)
采集系統(tǒng)具有高信噪比,使用戶在快速掃描時也能獲取到充足的信號。即使針對微弱信號,CEM3000系列臺式電鏡搭載的處理算法亦可將信號從背底中進行高效剝離,確保成像質(zhì)量。
4.豐富的定制功能
根據(jù)特定行業(yè)的需求,定制了自動化的顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量等選配功能??筛鶕?jù)用戶需求提供全自動軟件定制服務。

1.工業(yè)生產(chǎn)與質(zhì)量控制:
(1)PCB/PCBA缺陷分析: 快速定位焊點虛焊、橋連、裂紋,分析線路缺陷。
(2)金屬材料斷口分析: 清晰判斷斷裂性質(zhì),為產(chǎn)品改進提供關(guān)鍵依據(jù)。
(3)涂層/鍍層檢測: 直觀評估涂層均勻性、厚度及結(jié)合力。
2.科學研究與高校教育:
(1)材料研發(fā): 觀察納米材料、復合材料、多孔材料的微觀形貌。
(2)生命科學: 直接觀察昆蟲、植物、細胞等非導電生物樣品。
(3)教學演示: 替代光學顯微鏡,讓學生接觸科研設備,激發(fā)科研興趣。
3.地質(zhì)考古與法醫(yī)鑒定:
(1)礦物鑒定:觀察礦物的微觀形貌、解理、共生關(guān)系,輔助確定礦物類型。
(2)巖心分析:分析巖石的孔隙結(jié)構(gòu)、裂隙發(fā)育情況,對石油、天然氣勘探非常重要。
(3)微體古生物學:觀察有孔蟲、花粉、孢子等微體化石,用于地質(zhì)定年和古環(huán)境重建。
(4)考古文物分析:分析陶器、玉器、金屬文物的制作工藝、腐蝕產(chǎn)物和殘留物。

注:產(chǎn)品參數(shù)與配置可能因技術(shù)升級調(diào)整,具體以實際溝通為準。
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