中圖儀器0.005nm粗糙度RMS重復性白光干涉儀形貌重復性達0.1nm,臺階測量準確度僅0.3%,符合ISO 25178、ISO 10610等300余種國內(nèi)外標準?;诎坠飧缮婕夹g與復合型EPSI重建算法,連續(xù)10次測量Sa=0.2nm硅晶片,數(shù)據(jù)偏差<0.001nm,為工藝優(yōu)化、產(chǎn)品質(zhì)檢提供可信的量化依據(jù)。
更新時間:2025-11-25
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW工業(yè)表面3D檢測白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-11-17
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperView W1系列納米級白光干涉三維形貌儀以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數(shù),一站式解決超精密測量精度不足、多材質(zhì)適配難、批量檢測效率低等測量難題。應用覆蓋半導體、3C電子等多行業(yè)場景,數(shù)據(jù)驅(qū)動檢測,賦能精密制造升級。
更新時間:2025-11-11
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復性白光干涉儀一鍵完成單/多區(qū)域自動測量、批量分析,編程測量功能可預設流程實現(xiàn)一鍵操作,單個精細器件測量用時短,大幅提升檢測 throughput。
更新時間:2025-11-07
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW工業(yè)表面3D白光干涉檢測儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-10-28
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW白光干涉3D表面輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
更新時間:2025-10-17
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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