產(chǎn)品分類
傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專門的房間或設(shè)施,而中圖儀器國(guó)產(chǎn)掃描電鏡公司的CEM3000系列掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小,具有更高的易用性,要堅(jiān)固耐用得多。
更新時(shí)間:2025-11-03
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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CEM3000系列自動(dòng)化顆粒度統(tǒng)計(jì)掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測(cè)器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求,包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無(wú)論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn),獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-10-30
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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SuperViewW工業(yè)表面3D白光干涉檢測(cè)儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時(shí)間:2025-10-28
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:140
傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專門的房間或設(shè)施,而CEM3000中圖儀器臺(tái)式電鏡掃描儀器的框架尺寸還有所縮小,具有更高的易用性,要堅(jiān)固耐用得多。
更新時(shí)間:2025-10-28
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
瀏覽量:130
NS系列國(guó)產(chǎn)探針式臺(tái)階儀應(yīng)用場(chǎng)景適應(yīng)性強(qiáng),其對(duì)被測(cè)樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無(wú)特殊要求,可測(cè)量沉積薄膜的臺(tái)階高度、抗蝕劑(軟膜材料)的臺(tái)階高度等。
更新時(shí)間:2025-10-24
產(chǎn)品型號(hào):NS200
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VT6000白光共焦顯微鏡用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量??蓽y(cè)各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時(shí)間:2025-10-24
產(chǎn)品型號(hào):VT6100
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