產(chǎn)品分類
掃描電鏡SEM中圖儀器具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測(cè)器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求,包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn),獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-10-24
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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CEM3000國(guó)產(chǎn)SEM掃描電子顯微電鏡該系列臺(tái)式電鏡也可以進(jìn)入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內(nèi)大顯身手。即便在一些常規(guī)電鏡難以耐受的工作環(huán)境中,該系列臺(tái)式電鏡也能憑借抗振防磁技術(shù),展現(xiàn)出色的性能。
更新時(shí)間:2025-10-22
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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SuperViewW白光干涉3D表面輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-10-17
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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中圖儀器臺(tái)階儀器臺(tái)階高度重復(fù)性能低于5A,Z0向測(cè)量量程可到1050um。最高垂直分辨率可達(dá)亞埃米級(jí),且垂直方向動(dòng)態(tài)比率高,可以獲取表面輪廓形貌、粗糙度、波紋度、形狀誤差及其它一些形貌特征等綜合信息。
更新時(shí)間:2025-10-17
產(chǎn)品型號(hào):NS200
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?CEM3000中圖儀器國(guó)產(chǎn)電鏡是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析的緊湊型設(shè)備。憑借空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無需過多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。
更新時(shí)間:2025-10-17
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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SuperViewW1白光干涉光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-10-15
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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